Успешное завершение Предконференции №1 форума «Микроэлектроника 2025»

С 8 по 11 сентября в Москве на площадке АО «ЭНПО СПЭЛС» состоялась Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника», ставшая одним из ключевых событий в рамках подготовки к Российскому форуму «Микроэлектроника 2025». Мероприятие объединило ведущих экспертов отрасли для решения актуальных задач в области разработки и производства электронных компонентов.

Предконференцию открыл приветственной речью руководитель приоритетного технологического направления «Электронные технологии» РФ, академик РАН Геннадий Яковлевич Красников. Координацию работы мероприятия осуществляли д.т.н., профессор Александр Юрьевич Никифоров (ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ) и к.т.н. Леонид Николаевич Кессаринский (АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ).

Особенным событием в рамках предконференции стала презентация новой книги Александра Иннокентьевича Чумакова «Радиационные эффекты в интегральных схемах», выпущенной издательством «ТЕХНОСФЕРА». Автор издания — главный научный сотрудник и член совета директоров АО «ЭНПО СПЭЛС», д.т.н., профессор, заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ.

В течение четырех дней в интенсивном режиме проходили тематические сессии и предметные дискуссии. Участники обсуждали вопросы разработки и применения электронной компонентной базы (ЭКБ) для работы в экстремальных условиях, развития отечественного технологического и контрольно-измерительного оборудования, а также проблемы доверенной электроники и стандартизации. Всего в программе было представлено более 70 докладов, 8 из которых — в онлайн-формате.

Специалисты Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС» на предконференции представили 19 разноплановых докладов:

• «Доверенная ЭКБ для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры – проблемная ситуация и нормативное обеспечение», д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич.

• «Встреча без ГОСТ’ОВ: радиационные эффекты в современных изделиях ЭКБ простыми словами», к.т.н. Чуков Георгий Викторович.

• «Проблемы создания отечественных систем машинного зрения», к.т.н. Печенкин Александр Александрович.

• «Практический опыт автоматической оптической инспекции пластин с топологией», Цирков Артем Николаевич.

• «Приемопередающие СБИС с диапазоном частот суб-3 ГГЦ для объектов критической инфраструктуры», к.т.н. Усачев Николай Александрович.

• «Характеризация базовых элементов технологических библиотек GAN HEMT», Амбуркин Константин Михайлович.

• «Автоматизированный стенд для комплексной проверки силовых датчиков тока», Леухин Иван Борисович.

• «Методика проектирования многокаскадных малошумящих усилителей на основе А3В5-соединений», Чернышев Глеб Олегович.

• «Комплект средств проектирования для а3в5-технологических процессов в CADENCE VIRTUOSO: концепция построения и типовые сложности», Жидков Никита Михайлович.

• «Результаты СВЧ-характеризации отечественных КМОП процессов 180 И 250 нм», Сотсков Денис Иванович.

• «Проб-карта для проведения экспериментальных исследований малопотребляющих радиочастотных функциональных блоков», Землеруб Анна Константиновна.

• «Функциональные блоки систем питания малопотребляющих СБИС, изготавливаемых по отечественным технологическим процессам», Котов Владислав Николаевич.

• «Инструментальные усилители мощности на основе дискретных GA-N транзисторов», Шульгин Михаил Андреевич.

• «Открытая модульная платформа для полунатурного тестирования доверенных систем блоков малых космических аппаратов», Суринович Александр Дмитриевич, Егорова Анастасия Марковна.

• «Комбинированная система синхронизации открытой многоканальной модульной платформы», Златин Сергей Андреевич.

• «Разработка архитектуры открытой многоканальной модульной платформы», Шевлягин Михаил Сергеевич, Ширин Алексей Олегович.

• «Подход к формированию требований, обеспечению и подтверждению доверенности (качества и безопасности) электроники», к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич.

• «Рациональный статистический подход к радиационному контролю партий пластин изделий микроэлектроники в доверенном производстве», Московская Юлия Марковна.

• «Вычисления с применением операций на эллиптических кривых на основе ПЛИС», Турбин Денис Сергеевич.

С программой конференции и презентациями наших коллег можно ознакомиться в разделе "Конференции и семинары".

Особенностью программы в этом году стало включение обзорных лекций и мастер-классов. Этот формат позволил оформить мероприятие как курсы повышения квалификации. Участники, успешно выполнившие все требования, получат удостоверения о дополнительном профессиональном образовании государственного образца. Получить сертификаты можно на Форуме «Микроэлектроника 2025» в рамках трека «Доверенные ПАК и ЭКБ для регулируемых рынков КИИ» 24–25 сентября или после форума на площадке АО «ЭНПО СПЭЛС».

Благодарим всех коллег за активное и плодотворное участие и приглашаем к продолжению диалога на предстоящем Форуме!