Главная ∙ Новости ∙ Первый в этом году выпуск журнала «Безопасность информационных технологий» том 32, № 1 (2025)
Вышел новый номер научного журнала «БИТ», посвященный актуальным вопросам безопасности и устойчивости информационных и технических систем.
В выпуске представлены статьи, освещающие широкий спектр важных тем:
стандарты и методы испытаний на устойчивость к внешним воздействиям;
подтверждение стабильности кристаллов микроэлектроники;
надежность систем охраны объектов в постгарантийный период;
машинное обучение для выявления кибератак;
защищенность автоматизированных систем органов внутренних дел;
выявление киберугроз на объектах энергетики;
математическое моделирование временных характеристик угроз;
повышение точности систем обнаружения аномалий.
22.04.2026
АО "ЭНПО СПЭЛС" в НИЯУ МИФИ: карьерный форум и День открытых дверей
10.04.2026
Диссертация – естественный результат научной и технической работы!
30.03.2026
Сотрудники АО «ЭНПО СПЭЛС» выступили на конференции по микроэлектронике в Нижнем Новгороде
19.03.2026
Уникальные испытания ЭКБ проведены на комплексе NICA в Дубне