Главная ∙ Новости ∙ Первый в этом году выпуск журнала «Безопасность информационных технологий» том 32, № 1 (2025)
Вышел новый номер научного журнала «БИТ», посвященный актуальным вопросам безопасности и устойчивости информационных и технических систем.
В выпуске представлены статьи, освещающие широкий спектр важных тем:
стандарты и методы испытаний на устойчивость к внешним воздействиям;
подтверждение стабильности кристаллов микроэлектроники;
надежность систем охраны объектов в постгарантийный период;
машинное обучение для выявления кибератак;
защищенность автоматизированных систем органов внутренних дел;
выявление киберугроз на объектах энергетики;
математическое моделирование временных характеристик угроз;
повышение точности систем обнаружения аномалий.
07.10.2026
Консорциум НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» на форуме «Микроэлектроника 2026»
14.09.2026
Консорциум НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» провёл Предконференцию «Доверенная и экстремальная электроника»
18.08.2026
Вышел новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий»
17.07.2026
АО «ЭНПО СПЭЛС» приняло участие в выпускном НИЯУ МИФИ