Главная ∙ Новости ∙ Новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий» том 32, № 3 (2025)
Вышел новый выпуск научного журнала «БИТ. Безопасность информационных технологий»: номер включает колонку главного редактора и широкий блок научных статей по актуальным направлениям ИБ, криптографии, доверенной электронике и защите критической инфраструктуры. Новый номер также содержит раздел «События и мнения» с ретроспективным анализом прошлого, настоящего и будущего российских микросхем, конференциях МИТСОБИ 2025 и «Стойкость-2025», а также аналитикой рынка доверенной ЭКБ для объектов КИИ.
Ключевые материалы
Выпуск консолидирует результаты исследований по защите вычислительных платформ, методам противодействия атакам и обеспечению целостности данных в условиях роста сложности ИТ‑ландшафта.
Полное содержание выпуска доступно на сайте журнала.
Предыдущие номера.
Желаем приятного и полезного чтения!
07.10.2026
Консорциум НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» на форуме «Микроэлектроника 2026»
14.09.2026
Консорциум НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» провёл Предконференцию «Доверенная и экстремальная электроника»
18.08.2026
Вышел новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий»
17.07.2026
АО «ЭНПО СПЭЛС» приняло участие в выпускном НИЯУ МИФИ