С 7 по 8 июня 2021 года в г. Лыткарино в ДК «МИР» прошла 25-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2022). В конференции приняло участие 226 участников из 30 организаций, было представлено всего 108 стендовых и 27 устных докладов, из которых сотрудники Консорциума «ЭНПО СПЭЛС» - НИЯУ МИФИ» представили 40 стендовых и 8 устных доклада, в том числе на актуальные темы в развитие принятого в марте 2021 года КГВС «Климат-8»:
| Армен Вагоевич Согоян | А.В. Согоян1,2, А.И. Чумаков1,2, А.В. Уланова1,2, Д.В. Бойченко1,2, В.Ф.Герасимов3 1НИЯУ МИФИ, 2АО «ЭНПО СПЭЛС», 3ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ Методы оценки соответствия изделий ЭКБ требованиям радиационной стойкости: проблемы и перспективы |
| Александр Иннокентьевич Чумаков | А.И. Чумаков1,2, Д.В. Бобровский1,2, А.В. Согоян1,2, Н.В. Гаранюшкин3, С.Ю. Дианков4, В.Ф. Герасимов4, К.А. Чумаков2,5, О.А. Герасимчук1, Д.И. Юрков1 1НИЯУ МИФИ, 2АО «ЭНПО СПЭЛС», 3ФГКУ «12 ЦНИИ» МО РФ, 4ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ, 5ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН Оценка уровней сбоев в ИС при нейтронном воздействии разной интенсивности |
| Андрей Борисович Каракозов | А.Б. Каракозов, В.А. Марфин, К.А. Москаленко НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Исследование вероятности сбоя цифровых сложно-функциональных микросхем при импульсном ионизирующем воздействии |
| Николай Александрович Усачев | Н.А. Усачев, Д.И. Сотсков, Н.М. Жидков, И.А. Данилов, А.Г. Кузнецов, В.В. Елесин НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Цифровые модели ЭКБ для радиоэлектронной аппаратуры доверенного назначения |
| Никита Михайлович Жидков | Н.М. Жидков, Д.И. Сотсков, К.М. Амбуркин, А.Г. Кузнецов, Д.М. Амбуркин, В.В. Елесин, Н.А. Усачев НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Показатели стойкости GaAs функциональных блоков СВЧ приемопередатчиков |
| Александр Александрович Печенкин | А.Н. Егоров, О.Б. Маврицкий, А.А. Печенкин, Д.В. Савченков, М.С. Холина НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Практический опыт использования двухфотонного поглощения лазерного излучения для исследования одиночных эффектов |
| Андрей Георгиевич Петров | А.Г. Петров, И.И. Швецов-Шиловский, С.Б. Шмаков НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Сравнительный анализ стойкости резистивной и других видов энергонезависимой памяти к воздействию ИИ КП |
| Андрей Александрович Аникин | А.А. Аникин, К.А. Епифанцев, П.К. Скоробогатов НИЯУ МИФИ, АО «ЭНПО СПЭЛС» Особенности проведение испытаний на импульсную электрическую прочность в активном электрическом режиме |
