Выбор языка:
Микроэлектроника 2012
ДокументыДата добавления
Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти. популярный!
11/13/2012
Скачиваний: 5047
Влияние радиационных факторов на стойкость изделий.
Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти.
Исследование возможности разработки радиационно стойких бис навигационного назначения по отечественнпопулярный!
11/13/2012
Скачиваний: 6462
Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.
Исследование возможности разработки радиационно стойких бис навигационного назначения по отечественной кмоп кни технологии с нормами 0.35 мкм.
Анализ радиационного поведения импульсных стабилизаторов напряжения.популярный!
11/13/2012
Скачиваний: 5966
Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.
Анализ радиационного поведения импульсных стабилизаторов напряжения.
