АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Микроэлектроника 2012

ДокументыДата добавления

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.

Анализ радиационного поведения импульсных стабилизаторов напряжения.

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий микроэлектроники.

Исследование возможности разработки радиационно стойких бис навигационного назначения по отечественной кмоп кни технологии с нормами 0.35 мкм. 

 

Влияние радиационных факторов на стойкость изделий.

Микроэлектроники дозовая деградация динамических параметров микросхем памяти. 

Навигация по сайту: Главная страница Библиотека Библиотека Публикации Микроэлектроника 2012