АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Саров 2012

ДокументыДата добавления

Сортировать по : названию | дате | популярности [ по возрастанию ]

Радиационные отказы микросхем флэш-памяти.

А. Уланова. 

Особенности оценки радиационной стойкости изделий МЭМС.

Особенности оценки радиационной стойкости изделий МЭМС. Доклад.

Корреляция одиночных радиационных эффектов в ИС при воздействии нейтронов и протонов.

А. Афонин., А. Васильев.

Комплекс методических, аппаратных и программных средств для испытаний радиочастотных и СВЧ миктосхем.

Г. Чуков., А. Кузнецов. 

Навигация по сайту: Главная страница Конференции и семинары Саров 2012