АО "ЭНПО СПЭЛС"

Радиационные отказы микросхем флэш-памяти.

А. Уланова. 

Особенности оценки радиационной стойкости изделий МЭМС.

Корреляция одиночных радиационных эффектов в ИС при воздействии нейтронов и протонов.

А. Афонин., А. Васильев.

Комплекс методических, аппаратных и программных средств для испытаний радиочастотных и СВЧ миктосхем.

Г. Чуков., А. Кузнецов.