АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017»)

E-mail Печать PDF

ekb_3 В период с 05 по 07 апреля сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» Никифоров А.Ю., Боруздина А.Б., Московская Ю.М., Кессаринский Л.Н., Уланова А.В., Усачев Н.А. приняли участие с устными докладами в ежегодной Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017»), которая проходила в г. Санкт-Петербург, Россия (ссылка на сайт с информацией о конференции).

Конференция устраивается ежегодно АО «РНИИ «Электронстандарт» в конгресс-зале отеля «Park Inn (Пулковская)». В этом году в работе конференции приняли участие более 400 специалистов из более чем 50 организаций России и Республики Беларусь, среди которых (Министерство промышленности и торговли РФ, АО «Российская электроника», ФГУП «МНИИРИП», ГК «Ростехнологии», ГК «Роскосмос», ФГУП «18 ЦНИИ» МО РФ, АО «РНИИ «Электронстандарт» и многие другие).

Основная работа конференции проходила в течение двух дней на пленарном (18 докладов) и секционном заседаниях (44 доклада), в т.ч. стендовой секции (6 докладов). Перечень докладов приведен в Программе конференции.

ekb_2 Основными тематическими вопросами, обсуждаемыми на конференции, являлись:

-вопросы и проблемы обеспечения импортозамещения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;

-новые разработки ЭКБ ОП;

-современные вопросы стандартизации и сертификации в области ЭКБ;

-вопросы выбора и применения ЭКБ ОП и ИП для высоконадежной аппаратуры;

-надежность и радиационная стойкость современной ЭКБ и особенности их оценки для высоконадежной аппаратуры;

-порядок применения ЭКБ ИП в радиоэлектронной аппаратуре;

-порядок подтверждения соответствия ЭКБ ИП условиям применения;

-методы выявления контрафактной ЭКБ ИП.

 

Перечень докладов сотрудников НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС»:

ПЛЕНАРНЫЕ ДОКЛАДЫ:

1.

Название доклада: Состояние и развитие системы оценки и контроля радиационной стойкости ЭКБ.
Авторы: А.Ю. Никифоров, В.А. Телец, О.А.Калашников, Д.В.Бойченко, А.В.Уланова, Л.Н.Кессаринский, Г.В.Чуков
Организация: Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
Докладчик: д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич

2.

Название доклада: Тенденции и проблемные вопросы создания радиационно-стойкой электронной компонентной базы твердотельной СВЧ электроники
Авторы: 1В.В. Елесин, 2Г.Н. Назарова, 1А.Ю. Никифоров, 1Д.И. Сотсков, 1В.А. Телец, 1Н.А. Усачёв, 2Г.В. Чуков, 3И.Н. Кабанов, 3А.Н. Щепанов
Организации: 1Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2АО «ЭНПО СПЭЛС», 3ФГУП «МНИИРИП»
Докладчик: к.т.н. Усачёв Николай Александрович

ДОКЛАДЫ В СЕКЦИЯХ:

3. (ссылка для скачивания

Название доклада: Новые возможности исследований и прогнозного контроля радиационной стойкости ЭКБ в процессе разработки и производства
Авторы: Ю.М. Московская, А.Ю. Никифоров, Д.В. Бобровский, Д.В. Бойченко
Организация: АО «ЭНПО СПЭЛС»
Докладчик: Московская Юлия Марковна

4. (ссылка для скачивания)

Название доклада: Радиационная стойкость различных классов оптических изделий: доминирующие эффекты, методики испытаний и основные результаты
Авторы: А.В.Уланова, М.Е.Черняк, А.А.Печенкин, А.Г.Петров, А.Ю.Никифоров, А.И.Чумаков
Организация: АО «ЭНПО СПЭЛС»
Докладчик: к.т.н. Уланова Анастасия Владиславовна

5. (ссылка для скачивания)

Название доклада: Катастрофические отказы ЭКБ от ТЗЧ: основные эффекты, особенности испытаний и оценки соответствия изделий требованиям ТЗ.
Авторы: А.В. Яненко, А.Б. Боруздина, А.И. Чумаков, А.А. Печенкин, Д.В. Бобровский.
Организация: Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
Докладчик: к.т.н. Боруздина Анна Борисовна

6. (ссылка для скачивания)

Название доклада: Особенности поведения и оценки радиационной стойкости аналоговых полузаказных СБИС.
Авторы: 1Л.Н.Кессаринский, 1А.Я. Борисов, 1Д.В.Бойченко, 1Ю.М.Московская, 2В.В.Эннс
Организации: 1АО «ЭНПО СПЭЛС», 2ДЦ «Союз»
Докладчик: к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич

 
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости Участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017»)